Anonim

Nykyisessä 65 nm: n tekniikassa on suhteellisen helppo työskennellä, mutta merkittäviä variaatioita esiintyy 45 nm: n ja sitä pienemmillä alueilla. Nämä voivat vaikuttaa haitallisesti digitaalisten piirien tuottoon, luotettavuuteen ja virrankulutukseen. Esimerkiksi SRAM on todettu yhdeksi ensimmäisistä potentiaalisista uhreista, ja tällä on vakava vaikutus sirujärjestelmään ja muihin tuotteisiin.

Euroopan ensimmäisen merkittävän tähän aiheeseen omistetun kansainvälisen konferenssin tavoitteena on antaa syvällinen käsitys kaikista puolijohteiden variaatioon liittyvistä kysymyksistä. Kansallisen mikroelektroniikkainstituutin (NMI) järjestämä Varibility: suunnittelua valmistukseen, tuottoa ja luotettavuutta käsittelevä konferenssi järjestetään 23. lokakuuta 2007 Lontoon kuninkaallisessa lääkäreiden yliopistossa.